利用報告書 / User's Report

【公開日:2023.07.28】【最終更新日:2023.04.27】

課題データ / Project Data

課題番号 / Project Issue Number

22TU0006

利用課題名 / Title

デバイス開発 / Development of Devices

利用した実施機関 / Support Institute

東北大学

機関外・機関内の利用 / External or Internal Use

外部利用/External Use

技術領域 / Technology Area

【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)加工・デバイスプロセス/Nanofabrication(副 / Sub)-

【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed(副 / Sub)-

キーワード / Keywords

CVD,MEMSデバイス/ MEMS device


利用者と利用形態 / User and Support Type

利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)

南條 健

所属名 / Affiliation

株式会社 リコー

共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes

菊田利行

利用形態 / Support Type

(主 / Main)機器利用/Equipment Utilization(副 / Sub)-


利用した主な設備 / Equipment Used in This Project

TU-154:住友精密TEOS PECVD


報告書データ / Report

概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)

光変調素子の開発を行っている。その構成材料としてTEOS SiO2膜を成膜させていただいた。

実験 / Experimental

Siウェハ上へ、絶縁層としてのSiO2膜成膜と、構成材料としてのSiO2膜を成膜した。
【TEOS SiO2成膜条件】
装置:MPX-CVD
レシピ:DEPORATE
絶縁膜成膜時:500 nm成膜狙い
構造物成膜時:300 nm成膜狙い

結果と考察 / Results and Discussion

絶縁膜としてのSiO2膜成膜は予定通り実施された。後工程のSiO2膜の成膜も問題無く実施でき、本装置借用は問題無かったが、弊社内での装置のリソグラフィとエッチングが不良のため目的の構造は獲得出来なかった。

図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)


成果発表・成果利用 / Publication and Patents

論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents

特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件

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