【公開日：2023.07.28】【最終更新日：2023.05.25】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22TU0017
利用課題名 / Title
軟X線トモグラフィーによる磁気トポロジカル物性の観測
利用した実施機関 / Support Institute
東北大学
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用（ARIM事業参画者以外）/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）高度なデバイス機能の発現を可能とするマテリアル/Materials allowing high-level device functions to be performed（副 / Sub）量子・電子制御により革新的な機能を発現するマテリアル/Materials using quantum and electronic control to perform innovative functions
キーワード / Keywords
量子・電子材料・物質群, 量子マテリアル, トポロジカル量子物質
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
石井 祐太
所属名 / Affiliation
東北大学 理学研究科
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
申請者は、放射光軟X線による時分割トモグラフィー計測により、磁性体中に現れるトポロジカルな磁気物性のダイナミクス観測を目指している。 円筒状に微細加工された磁性体中には、渦スピン波等のトポロジカルな磁気物性が出現することが理論的に示唆されているが、実験的には確認されていない。本研究では、3次元的な計測が可能な軟X線トモグラフィー計測を利用して、これらのダイナミクスの観測を目指す。 そこで、これらの測定に用いる、微細加工された円筒試料の作製のために、CINTSの共用設備(FIB)を利用する。
実験 / Experimental
FIB装置を用いて、YIGとPyの単結晶試料からニードル形状のサンプル(厚み~数µm程度)を抽出し、同軸ニードル上に設置する。
結果と考察 / Results and Discussion
FIB装置を用いて、YIGとPyのニードル試料の微細加工と設置に成功した。また、試料割れ等に対する加工条件も突き止めることができた。これを用いた軟X線トモグラフィー実験は現在、放射光施設にて実施中である。得られた結果を今後加工条件にフィードバックする。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件