【公開日：2023.08.01】【最終更新日：2023.05.15】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
22RO0028
利用課題名 / Title
ニッケルのナノ構造形成・組成分析の評価・測定
利用した実施機関 / Support Institute
広島大学
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
外部利用/External Use
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】（主 / Main）計測・分析/Advanced Characterization（副 / Sub）-
【重要技術領域 / Important Technology Area】（主 / Main）その他/Others（副 / Sub）-
キーワード / Keywords
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名（課題申請者）/ User Name (Project Applicant)
中河原 毅
所属名 / Affiliation
tantore株式会社
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
山田真司
利用形態 / Support Type
（主 / Main）技術代行/Technology Substitution（副 / Sub）-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
報告書データ / Report
概要（目的・用途・実施内容）/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
日本市場では純度の低いニッケルメッシュも出回っている。純度の高いニッケルでなければ薬液に侵され腐食してしまう為、純度の高いニッケルワイヤーを特注しメッシュ状のニッケル金網を製造することで薬液に侵されない耐薬品性、耐熱性のあるニッケルメッシュをお客様に提供することが可能となる。
実験 / Experimental
広島大学ナノデバイス研究所の蛍光X線分析装置（XRF）を使って、以下の成分「Ni」「Al」「S」「Ti」「Si」を測定する。
結果と考察 / Results and Discussion
使用する蛍光X線分析装置（XRF）は波長分散型であるため、正しい測定のためには、試料の平坦性が求められる。そこで、試料の測定用前処理としてのプレス加工先を探したが、対応してくれるところが無く、そのままの形状でとりあえず測定を依頼した。また、比較対象としての他社品も網形状で平坦性もなく、形状も自社品と異なるため、正しい測定結果とならず、データの比較もできない結果となった。
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項（参考文献・謝辞等） / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング（DOIのあるもの） / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications：0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents：0件