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- 22AT0013
- 放射線照射したアラニンの放射線化学収量の測定
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0453
- 透過電子顕微鏡－原子間力顕微鏡比較測長用試作標準物質パターン線幅の走査電子顕微鏡を利用したSIトレーサブルな値付け
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0442
- 微細機械試験のためのSiO2ガラスのマイクロピラー作製
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0440
- 試料の高さ合わせのばらつきによるXPS定量分析の精度の低下
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0439
- n型メタルゲート材料TiAlの成膜
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0416
- ヘテロpn接合太陽電池中のドーパント濃度の定量分析
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0412
- 超高速光電流デバイス作成のための露光装置を用いた微細加工
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0316
- Hf0.5Zr0.5O2薄膜を用いた強誘電体薄膜キャパシタの作成
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0143
- MnTe薄膜のXRDによる結晶性評価
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0086
- Si基板のXPS分析
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所