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- 22AT5019
- 材料損傷発展に及ぼす加工時多軸応力場の影響解明
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5018
- 陽電子プローブアナライザーによる全固体電池を構成する粒子の欠陥・空隙評価
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5017
- 酸化クロムエピタキシャル膜の陽電子消滅寿命分光
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5016
- CsPbBr3薄膜の陽電子消滅寿命分光
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5015
- 実験と計算で比較したベータ石英結晶のバルク陽電子消滅寿命
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5013
- シリコン中にイオン照射で形成されたナノボイドの分析
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5012
- 高分子中のポジトロニウム
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5011
- ナノカーボン、セルロースを含むナノ材料構造解析
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5009
- 半導体材料のキャリアダイナミクス計測1
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所