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- 22KT0036
- 電子デバイスにおける薄膜層のモルフォロジーとデバイス特性に関する研究/開発
- 2023.8.1
- 京都大学
- 22KT0035
- Cryo-TEMによるカチオン化リポソームの構造評価
- 2023.8.1
- 京都大学
- 22KT0033
- I-CaHAPの微細構造観察
- 2023.8.1
- 京都大学
- 22KT0031
- 配位高分子の次元クロスオーバー構造変換
- 2023.8.1
- 京都大学
- 22KT0029
- ナノエマルジョンのクライオTEM撮影
- 2023.8.1
- 京都大学
- 22KT0027
- 垂直配向シリンダー型ミクロ相分離構造に基づく精密分離・反応膜の開発
- 2023.8.1
- 京都大学
- 22KT0026
- 大強度粒子加速器標的材として採用可能な超耐熱タングステン合金の製造法に関する研究
- 2023.8.1
- 京都大学
- 22KT0024
- フォトレオロジカル流体を用いた新しい研磨法の開発
- 2023.8.1
- 京都大学
- 22KT0023
- The characterization of carbide in annealed high chromium cast irons using TEM and EELS
- 2023.8.1
- 京都大学
- 22KT0020
- TFT構造における半導体層の局所物性評価
- 2023.8.1
- 京都大学