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- 23OS0011
- 新規耐熱合金中の微細析出物のTEM-EDS分析
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0012
- マイクロ波加熱による金属ナノワイヤーの精密形状制御
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0013
- 化合物半導体デバイスの分析
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0014
- 透過型電子顕微鏡を用いたコーティング塗膜の観察
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0015
- RAC1光スイッチによるアクチン重合・分岐の急速凍結クライオ電子線トモグラフィー
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0016
- SAWおよびBAWデバイスのTEM観察用薄片サンプル作成
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0017
- 透過電子顕微鏡法によるセラミックス酸化物の極微構造解析
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0018
- Transmission electron microscopy characterization of low-dimensional nanostructures on Si and oxide substrates
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0020
- マイクロエマルション含有液体サンプルの透過型電子顕微鏡観察
- 2024.7.25
- 大阪大学
- 23OS0021
- 半導体デバイス中の不可視欠陥の可視化
- 2024.7.25
- 大阪大学