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- 22AE0022
- 軟X線分光を用いた強磁性トポロジカル界面状態・磁性ワイル半金属物性の解明
- 2023.8.1
- 日本原子力研究開発機構
- 22AE0017
- 高性能MOS型パワーデバイス実現に向けたヘテロ界面評価とその制御技術の開発
- 2023.8.1
- 日本原子力研究開発機構
- 22AE0014
- 模擬放射性廃棄物固化ガラス中の元素の化学状態と崩壊熱による加温の影響
- 2023.8.1
- 日本原子力研究開発機構
- 22AE0032
- 軟X線放射光光電子分光による表面処理したm面GaNのその場酸化化学状態の分析とショットキー電極形成
- 2023.8.1
- 日本原子力研究開発機構
- 22AE0031
- 軟X線光電子分光による磁性トポロジカル量子輸送特性の解明
- 2023.8.1
- 日本原子力研究開発機構
- 22AE0030
- 高性能MOS型パワーデバイス実現に向けたヘテロ界面評価とその制御技術の開発
- 2023.8.1
- 日本原子力研究開発機構
- 22AE0029
- 超音速分子線を用いたグラフェンガスバリア特性評価のための要素技術開発: イオン照射による欠陥と透過特性の関係
- 2023.8.1
- 日本原子力研究開発機構
- 22AE0028
- 薄膜モデル電池を用いたオペランドX線回折法による全固体電池反応の解析
- 2023.8.1
- 日本原子力研究開発機構
- 22AE0027
- 表面X線散乱による二元系硝酸還元電極触媒におけるスズの状態解明3
- 2023.8.1
- 日本原子力研究開発機構
- 22AE0026
- 放射光EXAFSによる新規フッ素溶媒中の抽出金属イオン錯体の構造解析と、分離元素の酸化物・リン酸塩固化体中の電子状態の解明-2
- 2023.8.1
- 日本原子力研究開発機構