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- 23BA0020
- 走査型電子顕微鏡及びFIB装置を用いたプラズマ照射材の表面・断面及び組成計測
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0021
- 化合物半導体によるCbipolar回路の研究
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0022
- 超伝導デバイスの作製
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0023
- 光電子分光(XPS/UPS)装置による光半導体材料の評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0024
- 金属ハライドペロブスカイト半導体の物性評価
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0025
- 電界放出型走査電子顕微鏡による2次元半導体の観察
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0027
- 「微細加工装置」を利用した高温超伝導デバイスの製作
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0029
- 界面・薄膜の分光学的研究
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0030
- プローブ顕微鏡や光学手法を用いた先端的計測実現へ向けた試料作製
- 2024.7.25
- 筑波大学
- 23BA0031
- ナノ加工を用いたプラズモニックデバイスの作製
- 2024.7.25
- 筑波大学