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表示件数

23BA0020
走査型電子顕微鏡及びFIB装置を用いたプラズマ照射材の表面・断面及び組成計測
2024.7.25
筑波大学
23BA0021
化合物半導体によるCbipolar回路の研究
2024.7.25
筑波大学
23BA0022
超伝導デバイスの作製
2024.7.25
筑波大学
23BA0023
光電子分光(XPS/UPS)装置による光半導体材料の評価
2024.7.25
筑波大学
23BA0024
金属ハライドペロブスカイト半導体の物性評価
2024.7.25
筑波大学
23BA0025
電界放出型走査電子顕微鏡による2次元半導体の観察
2024.7.25
筑波大学
23BA0027
「微細加工装置」を利用した高温超伝導デバイスの製作
2024.7.25
筑波大学
23BA0029
界面・薄膜の分光学的研究
2024.7.25
筑波大学
23BA0030
プローブ顕微鏡や光学手法を用いた先端的計測実現へ向けた試料作製
2024.7.25
筑波大学
23BA0031
ナノ加工を用いたプラズモニックデバイスの作製
2024.7.25
筑波大学
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