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- 22BA0042
- TEM sample preparation of Pt/a-Si/c-Si structure by FIB
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0041
- イオン輸送を利用して動作するメモリスタ素子の電気特性評価
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0040
- イオンミリング装置を利用した各種材料の表面研磨、断面試料の作製
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0037
- Observation of chemical states by using (ARIM)Photoemission Spectrometer(XPS/UPS) JPS-9010TR
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0036
- イオンミリングによるダイヤモンド電界放出電子源の試作
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0035
- ナノ微細加工を用いたプラズモニック構造の作製
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0034
- パターン塗布製品開発のための基礎研究
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0033
- センサ/回路一体型・放射線検出器のためのデバイスシミュレータを利用した有機トランジスタの性能予測
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0032
- 極小螺旋ドーナツレーザーの開発
- 2023.7.28
- 筑波大学
- 22BA0031
- ナノカーボン材料の局所電気伝導特性評価
- 2023.7.28
- 筑波大学