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- 22AT0145
- SrTiO3単結晶の電気特性の評価
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0142
- 光電子放出材料の複素屈折率測定
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0138
- HI(ヨウ化水素)プラズマ処理によるGe 表面特性の調査
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0137
- センシング材料表面の評価
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0135
- 原子層堆積法による微細加工シリコン基板上への導電性酸化物薄膜形成
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0132
- ミニマル反応性スパッタ装置によるAlN膜形成プロセスの開発
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0131
- シリコン光導波路の開発
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0130
- GaN スパッタ膜の評価
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0128
- High-k膜の成膜
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT0127
- XPSによる超伝導薄膜の表面状態分析
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所