利用報告書検索
新着順
表示件数
- 22AT5013
- シリコン中にイオン照射で形成されたナノボイドの分析
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5012
- 高分子中のポジトロニウム
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5011
- ナノカーボン、セルロースを含むナノ材料構造解析
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5010
- 低エネルギーイオン照射が白雲母内部に作る格子欠陥の直接観察
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5009
- 半導体材料のキャリアダイナミクス計測1
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5008
- 超伝導検出器開発のための研究
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5007
- 細胞組織内のイオン分布に関する研究
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5006
- P型酸化銅半導体薄膜の欠陥構造解析
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5005
- 固体重水素NMRによる高分子中の分子ダイナミックス測定
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所
- 22AT5003
- high-k薄膜評価
- 2023.7.28
- 産業技術総合研究所