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- 23UT0353
- 半導体電極界面の電場観察
- 2024.7.25
- 東京大学
- 23UT0358
- XRDラインプロファイル解析を用いたベイナイト鋼の転位密度測定
- 2024.7.25
- 東京大学
- 23UT0363
- SEMによる微細構造物の観察
- 2024.7.25
- 東京大学
- 23UT0365
- 高効率、高選択なエネルギー変換を実現する電極触媒の開発
- 2024.7.25
- 東京大学
- 23UT1205
- 平面型シリコン熱電ハーベスタの開発
- 2024.7.25
- 東京大学
- 23UT1206
- アレイアンテナ集積半導体量子井戸光変調器の作製
- 2024.7.25
- 東京大学
- 23UT1207
- 光学擾乱を用いたナノイメージングに関する研究
- 2024.7.25
- 東京大学
- 23UT1208
- 蛍光を用いた三次元形状計測に関する研究
- 2024.7.25
- 東京大学
- 23UT1211
- 選択的なウェットエッチングを可能とする基板表面処理剤の開発
- 2024.7.25
- 東京大学
- 23UT1213
- 日仏微細加工プラットフォーム技術協力による微細メッキ技術の高度化
- 2024.7.25
- 東京大学