日時
2025年2月6日（木）13:30-15:30
開催方式／場所
オンライン＋現地開催
オンライン：Microsoft Teamsによるオンライン配信
場所：名古屋工業大学4号館1階110室
主催
名古屋工業大学 産学官金連携機構 設備共用部門
定員
現地：30名（定員となり次第締め切り）
Web：なし
参加費
無料
参加申し込み
Webフォーム https://kiki.web.nitech.ac.jp/eq-seminar20250206/
申込締切：2月3日（月）9:00
詳細
13:30-15:00（質問時間：10分を含む）
「多機能電子顕微鏡JEM-F200のご紹介」
日本電子株式会社 科学・計測機器営業本部 遠藤 徳明 氏
多機能電子顕微鏡JEM-F200は、TEM像、電子回折図形、STEM像の取得に加え、大口径SDDを2本搭載することで、ハイスループットかつ
高精度なEDS分析を実現します。
直感的な操作性とオートアシスト機能を備え、さらにSPECPORTER™により、スイッチ一つでホルダーの安全な挿入・取り出しが可能です。
本セミナーでは、装置の主な特長と取得可能なアプリケーション例についてご紹介いたします。
【主な発表内容】
・装置のハードウェア（Cold-FEG、Dual SDD、SPECPORTER™など）
・装置のソフトウェア（TEM Centerや統合分析プラットフォームFEMTUS™など）
・取得可能なアプリケーション例
15:10-15:30
TEM (JEM-F200)見学会
※現地参加の希望者のみ
※搬入後立上げ途中の装置外観になります。立上げ作業中により人数制限を行う可能性がありますので、予めご了承ください。
※見学の後に相談もお受けします。（最大17時まで）
お問い合わせ
名古屋工業大学 産学官金連携機構 設備共用部門
愛知県名古屋市昭和区御器所町
Tel: 052-735-5533
E-mail: oogata-jim(at)adm.nitech.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。
ホームページ
[URL] https://kiki.web.nitech.ac.jp/eq-seminar20250206/
※最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。