高輝度放射光XAFSシステム
最終更新日：2024年3月7日
| 設備ID | AE-003 |
|---|---|
| 分類 | 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > エックス線吸収端構造解析 （nearedgeを含む） |
| 設備名称 | 高輝度放射光XAFSシステム (XAFS measuring station) |
| 設置機関 | 日本原子力研究開発機構（JAEA） |
| 設置場所 | SPring-8 BL22XU |
| メーカー名 | カスタム (Home-made) |
| 型番 | なし |
| キーワード | XAFS、XANES、放射光、構造解析、状態解析、抽出剤、金属回収、都市鉱山、1Fデブリ、福島環境回復、高輝度XAFS、地層処分、ガラス固化体 |
| 仕様・特徴 | 試料中の特定元素の原子価や局所構造を決定 ・エネルギー範囲：4～72keV ・測定方法：通常の透過法／微量元素用の蛍光法、通常のStepScan／高速計測対応（QuickScan） ・試料：少量核燃物質、国際規制物資、RI・アクチノイド試料 ・KBミラーによる数十μm程度の空間分解能 ・クライオスタットによる低温測定 ・電気炉による高温測定 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=AE-003 |
