走査型プローブ顕微鏡
| 設備ID | OS-125 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 装置名称 | 走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope) |
| 設置機関 | 大阪大学 |
| 設置場所 | 産業科学研究所N321 |
| メーカー名 | 株式会社日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science Corporation) |
| 型番 | AFM5000/AFM5300E |
| キーワード | 環境可変型 AFM c-AFM STM DFM MFM KFM PRM 電流マッピング SNDM |
| 仕様・特徴 | 【特徴】 AFM,c-AFM,STM,DFM,MFM,KFM,PRM,電流マッピング,SNDMなどが測定可能な走査型プローブ顕微鏡です。 温度制御、調湿制御機構を備えており、真空下での測定も可能です。 500ｍTの磁場が試料水平方向に印加可能です。 【仕様】 試料サイズ：15mmφ 温度制御：-120～300℃ 調湿制御：30～70％ 真空中測定：10E-4Paまで可能 磁場印加：試料水平方向に500ｍT |
