オペランド多目的X線回析
設備ID | MS-210 |
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分類 | 回折・散乱 > X線回折 |
装置名称 | オペランド多目的X線回析 (Operando Multipurpose X-ray diffraction) |
設置機関 | 自然科学研究機構 分子科学研究所 |
設置場所 | 分子研 明大寺地区 |
メーカー名 | Malvern Panalytical (Malvern Panalytical) |
型番 | Empyrean |
キーワード | 構造解析、オペランド測定、X線回析 |
仕様・特徴 | X線源 Cu、45kV・40mA(1.8kW)、Mo、60kV・50mA(3kW) 光学系 Cu、Bragg-Bretano HD、集光ミラー、2結晶Ge(220)ハイブリッドモノクロメーター、X線レンズ Mo、集光ミラー、2結晶Ge(220)ハイブリッドモノクロメーター 検出器 プロポーショナル検出器、半導体検出器 温度可変 -180~500℃、RT~1200℃ |