オペランド多目的X線回析
最終更新日：2024年10月18日
| 設備ID | MS-210 |
|---|---|
| 分類 | 回折・散乱 > X線回折 |
| 設備名称 | オペランド多目的X線回析 (Operando Multipurpose X-ray diffraction) |
| 設置機関 | 自然科学研究機構 分子科学研究所 |
| 設置場所 | 分子研 明大寺地区 |
| メーカー名 | Malvern Panalytical (Malvern Panalytical) |
| 型番 | Empyrean |
| キーワード | 構造解析、オペランド測定、X線回析 |
| 仕様・特徴 | X線源 Cu、45kV・40mA、Mo、60kV・40mA 光学系 Cu、Bragg-Bretano HD、集光ミラー、2結晶Ge(220)ハイブリッドモノクロメーター、X線レンズ Mo、集光ミラー、2結晶Ge(220)ハイブリッドモノクロメーター 検出器 プロポーショナル検出器、半導体検出器 温度可変 -180～500℃、RT～1200℃ |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=MS-210 |
