電界放出形透過型電子顕微鏡
最終更新日：2024年4月9日
| 設備ID | MS-203 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 電界放出形透過型電子顕微鏡 (Field emission transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 自然科学研究機構 分子科学研究所 |
| 設置場所 | 分子研 山手地区 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2100F |
| キーワード | 透過型電子顕微鏡 |
| 仕様・特徴 | 電子銃 フィールドエミッション 加速電圧 200kV 分解能 0.23nm（粒子像）、0.1nm（格子像） 倍率 X2,000 ～ X1,500,000 試料 3mmφ以内 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=MS-203 |
