走査型プローブ顕微鏡
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最終更新日：2024年8月29日
| 設備ID | TT-029 |
|---|---|
| 分類 | > |
| 設備名称 | 走査型プローブ顕微鏡 (Scanning probe microscopy) |
| 設置機関 | 豊田工業大学 |
| 設置場所 | 通常実験室 |
| メーカー名 | エスアイアイ・ナノテクノロジー（新社名：日立ハイテクサイエンス） (SII-NT) |
| 型番 | SPA400 |
| キーワード | Dynamic Force Mode も付いた原子間力顕微鏡。 |
| 仕様・特徴 | ・AFM, DFM, pA測定可能 ・小片～10ｍｍ角程度の基板 |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=TT-029 |
