ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム
設備ID | TT-019 |
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分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
装置名称 | ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム (Scanning probe microscope for measuring nano-region material property) |
設置機関 | 豊田工業大学 |
設置場所 | 通常実験室 |
メーカー名 | ブルカー (Bruker) |
型番 | Multimode顕微鏡 |
キーワード | 走査型プローブ顕微鏡。ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム。 |
仕様・特徴 | ・導電性(TUNA) ・表面電位、STM機能 ・原子、分子分解能 |