電界放出型走査電子顕微鏡
最終更新日：2024年4月8日
| 設備ID | SH-101 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 電界放出型走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope) |
| 設置機関 | 信州大学 |
| 設置場所 | 信州大学 長野（工学）キャンパス E7棟 |
| メーカー名 | 日立ハイテク (Hitachi High-Tech) |
| 型番 | SU8000 |
| キーワード | 電界放出型の電子顕微鏡 組成分析 |
| 仕様・特徴 | 加速電圧：0.5 ～ 30 kV 倍率：低倍率モード20 ～ 2,000倍 高倍率モード100 ～ 800,000倍 分析機能：EDX付 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=SH-101 |
