飛行時間型二次イオン質量分析装置
設備ID | SH-006 |
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分類 | 質量分析 > 飛行時間質量分析 |
装置名称 | 飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time of flight secondary ion mass spectroscopy) |
設置機関 | 信州大学 |
設置場所 | 信州大学 長野(工学)キャンパス 国際科学イノベーションセンター |
メーカー名 | TOF.SIMS5-ADSD-100 (ION-TOF) |
型番 | TOF.SIMS5-ADSD-100 |
キーワード | 微量表面分析 無機・有機材料 スパッタプロファイル |
仕様・特徴 | 高質量分解能パルス圧縮モード:最小スポット径600nm 高空間分解能モード:最小スポット径120nm バーストモード:質量分解能と空間分解能を両立 µm2からcm2まで測定可能 深さ分解能 : 1nm 以下 質量分解能>11,000 @29u (FWHM) |