光電子分光装置
| 設備ID | SH-004 |
|---|---|
| 分類 | 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > X線光電子分光 （XPS（硬X線を含む）） |
| 装置名称 | 光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscopy) |
| 設置機関 | 信州大学 |
| 設置場所 | 信州大学 長野（工学）キャンパス 国際科学イノベーションセンター |
| メーカー名 | アルバックファイ (Ulvac Phi) |
| 型番 | QuanteraⅡ |
| キーワード | 導体、絶縁体材料対応 化学組成、化学結合分析 |
| 仕様・特徴 | ディユアルビーム方式帯電中和 絶縁物分析可能 分析領域：7.5μ～1.4mm |
