原子分解能分析電子顕微鏡
最終更新日：2024年4月8日
| 設備ID | SH-003 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 原子分解能分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope ) |
| 設置機関 | 信州大学 |
| 設置場所 | 信州大学 長野（工学）キャンパス 国際科学イノベーションセンター |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F NEOARM |
| キーワード | 剝片化試料 球面収差補正 ナノ材料一般 原子像解析 組成分析 |
| 仕様・特徴 | 分解能STEM-HAADF 0.078nm（200kV） 加速電圧 30、80、200kV 自動収差補正システム |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=SH-003 |
