走査型透過電子顕微鏡
| 設備ID | SH-002 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 信州大学 |
| 設置場所 | 信州大学 長野（工学）キャンパス E7棟 |
| メーカー名 | 日立ハイテク (Hitachi High-Tech) |
| 型番 | HD-2300A |
| キーワード | 剝片化試料一般 STEM ナノスケール形状観察 Zコントラスト活用 |
| 仕様・特徴 | 分解能0.204nm 加速電圧200kV |
