ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡
最終更新日：2024年4月8日
| 設備ID | SH-001 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡 (Double spherical aberration corrected transmission electron microscope (Cs-corrected TEM)) |
| 設置機関 | 信州大学 |
| 設置場所 | 信州大学 長野（工学）キャンパス 総合研究棟 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | ＪＥＭ-2100Ｆ |
| キーワード | 炭素系材料 球面収差補正 低加速電圧（80kV）運転 エネルギー損失分光 |
| 仕様・特徴 | 球面収差補正装置： EM-Z07167T 2段つき 加速電圧：80kV(カーボンに特化した低加速電圧で運転中) 分析機能：EELS、EDS |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=SH-001 |
