大気中原子間力顕微鏡
最終更新日:2024年3月7日
設備ID | JI-012 |
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分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
設備名称 | 大気中原子間力顕微鏡 (AFM) |
設置機関 | 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST) |
設置場所 | JAISTマテリアルサイエンス系研究棟IV |
メーカー名 | 日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science) |
型番 | AFM5000II SPA-400 |
キーワード | 表面形状観察 走査型プローブ顕微鏡 |
仕様・特徴 | 測定方式:光てこ方式 試料サイズ:最大直径35mmφ 最大厚み10mm 走査範囲:20μm |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=JI-012 |