大気中原子間力顕微鏡
| 設備ID | JI-012 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 装置名称 | 大気中原子間力顕微鏡 (AFM) |
| 設置機関 | 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST） |
| 設置場所 | JAISTマテリアルサイエンス系研究棟IV |
| メーカー名 | 日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science) |
| 型番 | AFM5000II SPA-400 |
| キーワード | 表面形状観察 走査型プローブ顕微鏡 |
| 仕様・特徴 | 測定方式：光てこ方式 試料サイズ：最大直径35mmφ 最大厚み10mm 走査範囲：20μm |
