透過電子顕微鏡
最終更新日：2024年3月7日
| 設備ID | JI-009 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 透過電子顕微鏡 (TEM) |
| 設置機関 | 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST） |
| 設置場所 | JAIST電子顕微鏡棟 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2100Plus |
| キーワード | 構造観察 元素分析 低加速電圧 ナノメカニクス計測 低次元材料 電子回折 透過型電子顕微鏡 走査型透過電子顕微鏡 |
| 仕様・特徴 | 【半遠隔利用可】 加速電圧：60, 100, 120, 200kV EDSによる組成分析機能付 UHR仕様 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=JI-009 |
