透過電子顕微鏡
設備ID | JI-009 |
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分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
装置名称 | 透過電子顕微鏡 (TEM) |
設置機関 | 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST) |
設置場所 | JAIST電子顕微鏡棟 |
メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
型番 | JEM-2100Plus |
キーワード | 構造観察 元素分析 低加速電圧 ナノメカニクス計測 低次元材料 電子回折 透過型電子顕微鏡 走査型透過電子顕微鏡 |
仕様・特徴 | 【半遠隔利用可】 加速電圧:60, 100, 120, 200kV EDSによる組成分析機能付 UHR仕様 |