透過型電子顕微鏡
最終更新日：2024年8月5日
| 設備ID | UE-017 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 透過型電子顕微鏡 (Transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 電気通信大学 |
| 設置場所 | 東6号館1F102 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2100F |
| キーワード | TEM、透過型電子顕微鏡/ Transmission electron microscopy |
| 仕様・特徴 | 試料のミクロな投影像を観察 ・加速電圧：200 kV ・格子分解能：0.1nm、点分解能: 0.23 nm ・STEMモードの分解能：0.2 nm |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UE-017 |
