透過型電子顕微鏡
| 設備ID | UE-017 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 透過型電子顕微鏡 (Transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 電気通信大学 |
| 設置場所 | 東6号館1F102 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2100F |
| キーワード | TEM、透過型電子顕微鏡/ Transmission electron microscopy |
| 仕様・特徴 | 加速電圧: 200kV, 格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm |
