ダイヤモンド用ICPリアクテブイオンエッチング装置
最終更新日:2024年10月1日
設備ID | IT-014 |
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分類 | 膜加工・エッチング > プラズマエッチング |
設備名称 | ダイヤモンド用ICPリアクテブイオンエッチング装置 (ICP Reactive ion etcher for diamond) |
設置機関 | 国立大学法人 東京科学大学(旧:国立大学法人 東京工業大学) |
設置場所 | 科学大(旧:東工大)大岡山キャンパス |
メーカー名 | サムコ (Samco) |
型番 | ICP-400iP |
キーワード | 微細構造形成、プラズマエッチング/ Plasma etching |
仕様・特徴 | ダイヤモンドやシリコン、SiO2などを高密度プラズマでエッチングする装置です。また、屈折率差がある材料であれば、終点検知も可能です。最大4インチ, 2インチ以下なら不定形基板の取り扱いができます。ガス種:CHF3, O2, CF4 |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=IT-014 |