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ダイヤモンド用ICPリアクテブイオンエッチング装置

最終更新日:2024年10月1日
設備ID IT-014
分類 膜加工・エッチング > プラズマエッチング
設備名称 ダイヤモンド用ICPリアクテブイオンエッチング装置 (ICP Reactive ion etcher for diamond)
設置機関 国立大学法人 東京科学大学(旧:国立大学法人 東京工業大学)
設置場所 科学大(旧:東工大)大岡山キャンパス
メーカー名 サムコ (Samco)
型番 ICP-400iP
キーワード 微細構造形成、プラズマエッチング/ Plasma etching
仕様・特徴 ダイヤモンドやシリコン、SiO2などを高密度プラズマでエッチングする装置です。また、屈折率差がある材料であれば、終点検知も可能です。最大4インチ, 2インチ以下なら不定形基板の取り扱いができます。ガス種:CHF3, O2, CF4
設備状況 稼働中
本設備の利用事例 https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=IT-014
    ダイヤモンド用ICPリアクテブイオンエッチング装置
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