電気計測装置群(オシロスコープ、スペクトルアナライザー、LCRメーター、等)
最終更新日:2024年4月5日
設備ID | WS-029 |
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分類 | デバイス特性 > 電気特性評価 |
設備名称 | 電気計測装置群(オシロスコープ、スペクトルアナライザー、LCRメーター、等) (Electrical measuring device group) |
設置機関 | 早稲田大学 |
設置場所 | 早稲田大学121号館ナノテクノロジーリサーチセンター |
メーカー名 | キーサイト株式会社エヌエフ回路設計ブロック (Keysight Technologies, Inc.NF CORPORATION) |
型番 | DSO X-3054TN9322CZM2371 |
キーワード | 各種電気特性測定機器(小型装置)あり 電気特性評価 |
仕様・特徴 | 1,オシロスコープ:DSOX3054T 帯域幅:500 MHz、 サンプリングレート: 4 GSa/s 入力インピーダンス: 1 M Ω 2,スペアナ:N9322C 周波数:9 kHz to 7 GHz 最大解析帯域幅:1 MHz 3,LCRメータM2371 測定周波数 1mHz~100kHz、設定分解能5桁 測定信号レベル 10mVrms~5Vrms/1μArms~200mArms DCバイアス用電源内蔵 0~+2.5V |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=WS-029 |