高耐圧デバイス測定装置+ 高耐圧プローバ
最終更新日:2024年4月5日
設備ID | WS-022 |
---|---|
分類 | デバイス特性 > 電気特性評価 |
設備名称 | 高耐圧デバイス測定装置+ 高耐圧プローバ (high votage semiconductor device analyzer) |
設置機関 | 早稲田大学 |
設置場所 | 早稲田大学121号館ナノテクノロジーリサーチセンター |
メーカー名 | プローバ:長瀬産業株式会社(特注品)測定装置:アジレント社製B1505A (NAGASE & CO., LTD.) |
型番 | プローバ:長瀬産業社製(特注品) 測定装置:アジレント社製B1505A |
キーワード | パワーデバイス用 電気特性評価 |
仕様・特徴 | 10K~600Kの真空環境下での高耐圧デバイス(2000V又は20A MAX)測定可能、25mmx25mm以下(測定範囲) 測定装置:アジレント社製B1505A 3000V までの電圧印加と高精度測定 最小パルス幅50 μs の 大電流モジュール(最大20 A) カーブトレーサ・モードでの デバイスのクイックチェック |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=WS-022 |