集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
設備ID | AT-034 |
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分類 | 微小加工装置 > 集束イオンビーム(FIB) |
装置名称 | 集束イオンビーム加工観察装置(FIB) (Focused Ion Beam System(FIB)) |
設置機関 | 産業技術総合研究所(AIST) |
設置場所 | AISTつくば中央 2-12棟 |
メーカー名 | 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech) |
型番 | FB-2100 |
キーワード | 収束イオンビーム加工 Ga集束イオンビーム FIB加工 TEM試料作製 タングステンデポジッション |
仕様・特徴 | ・型式:FB-2100 ・試料サイズ: 18mmφ以下, 高さ10mm以下 ・イオン源:ガリウム液体金属イオン源 ・加速電圧:2kV, 5kV, 10kV~40 kV (低加速電圧対応) ・像分解能:6 nm (SIM) ・ビーム径:3µm, 1.3µm, 600 nm, 320 nm, 120 nm, 60 nm, 10 nm ・イオンビーム電流:0.1nA~68nA (大電流対応) ・デポジションガス:タングステンカルボニル ・マニュピレータシステム:シングルプローブ ・試料ステージ制御:5軸チルトステージ ・ステージ傾斜角度:最大45° |