共用設備検索結果
顕微レーザーラマン分光測定装置 (Laser Raman Microscope system)
- 設備ID
- HK-631
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![顕微レーザーラマン分光測定装置](data/facility_item/1712310161_11.jpg)
- メーカー名
- HORIBA Jobin Yvon (HORIBA Jobin Yvon)
- 型番
- LabRAM HR-Evolution type pa nano
- 仕様・特徴
- 励起波長: 633nm
測定波長範囲:100-4000cm-1
分光器焦点距離:800mm
光学配置:ツェルニターナ配置
グレーティング:600、1800 gr/mm
検出器: CCD検出器 (Open Electrodeタイプ)
スペクトル分解能(FWHM):0.35 cm-1 )@633nm, 1800gr/mm)
ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 (Double Cs-corrected scanning transmission electron microscope )
- 設備ID
- HK-101
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡](data/facility_item/1651472079_14.jpg)
- メーカー名
- 日本FEI (FEI)
- 型番
- Titan3 G2 60-300
- 仕様・特徴
- ・加速電圧:60kV-300kV
・TEM分解能:0.07nm、STEM分解能:0.07nm
・X-FEG電子銃
・モノクロメーター搭載
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・Super-X EDS検出器
・Gatan GIF QuantumER分光器
・分析試料ホルダー、トモグラフィー試料ホルダー
・遠隔観察
・遠隔オペレーション
電界放射型分析電子顕微鏡 (Analytical FEG-TEM)
- 設備ID
- HK-102
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![電界放射型分析電子顕微鏡](data/facility_item/1651472101_14.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2010F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧:200kV
・TEM分解能:0.23nmn
・熱電界放出電子銃
・分析機能:EDS、EELS
・遠隔観察
マルチビーム超高圧電子顕微鏡 (Multi-Beam HVEM)
- 設備ID
- HK-103
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![マルチビーム超高圧電子顕微鏡](data/facility_item/1651472121_14.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- ARM-1300
- 仕様・特徴
- ・加速電圧:1250kV
・TEM分解能:0.12nmn
・LaB6熱電子銃
・300K、400Kイオン加速器
・ナノ秒パルスレーザー
・He-Cd CWレーザー
・フェムト秒レーザー
・CCD分光器
・遠隔観察
集束イオンビーム加工装置 (FIB)
- 設備ID
- HK-105
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![集束イオンビーム加工装置](data/facility_item/1651472189_14.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-9320FIB
- 仕様・特徴
- ・イオン加速電圧:5 ~ 30 kV
・倍率:150(50)~300,000
・真空系:ターボ分子ポンプ(TMP)、ロータリーポンプ(RP)
・チップオンホルダー
・バルクホルダー
・ピックアップ装置
・遠隔観察装置
量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置 (Microscopic measuring equipment for physical properties on quantum/electronic controlled nano-materials)
- 設備ID
- HK-107
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置](data/facility_item/1687224566_11.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F NEOARM
- 仕様・特徴
- ・加速電圧:80kV-200kV
・TEM分解能:0.1nm、STEM分解能:0.07nm
・冷陰極電界放出型電子銃
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・HAADF-ABF同時取得機能
・EDS検出器
・加熱・バイアス印加TEM二軸傾斜ホルダー
X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscope)
- 設備ID
- HK-201
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![X線光電子分光装置](data/facility_item/1651472232_14.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 仕様・特徴
- 標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV(モノクロX線源)
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30μmφ~3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
オージェ電子分光装置 (Auger electron spectroscope)
- 設備ID
- HK-202
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![オージェ電子分光装置](data/facility_item/1651472260_14.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JAMP-9500F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:0.5~30kV、プローブ電流:10-11~2×10-7A
二次電子分解能:3nm
オージェ分析プローブ径最小:8nm
アルゴンイオンエッチング銃
EBSD測定(TSLソリューションズ ORION検出器)
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
Spectrum investigator、Spectrum Imaging
環境セル対応透過電子顕微鏡 (Transmission electron microscope for Environmental cell (E-TEM))
- 設備ID
- HK-301
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![環境セル対応透過電子顕微鏡](data/facility_item/1651472280_14.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2010
- 仕様・特徴
- 加速電圧:200kV
分析機能:EDS
環境セル加熱ホルダー装備
電界放出形走査電子顕微鏡 (Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM))
- 設備ID
- HK-302
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![電界放出形走査電子顕微鏡](data/facility_item/1651472302_14.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-6500F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:1kV~30kV
分析機能:EDS, EBSD