原子層堆積装置_1[FlexAL]
最終更新日:2022年6月14日
設備ID | AT-031 |
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分類 | 成膜装置 > 原子層堆積(ALD)装置 |
設備名称 | 原子層堆積装置_1[FlexAL] (Atomic Layer Deposition_1〔FlexAL〕) |
設置機関 | 産業技術総合研究所(AIST) |
設置場所 | AISTつくば中央 2-12棟 |
メーカー名 | オックスフォードインスツルメント (Oxford Instruments Plasma) |
型番 | FlexAL |
キーワード | ALD成膜 原子層堆積 Al2O3, SiO2, HfO2, ZnO, TiO2, SiN薄膜 in-situ 分光エリプソ |
仕様・特徴 | ・型式:FlexAL ・試料サイズ:8インチφ ・基板温度:100-550℃ ・プラズマALD:600W(誘導結合型) ・基板バイアス:100W ・反応ガス:H2O, O2, N2, H2, NH3 ・材料ポート:8ポート ・常備材料ガス:TMA, DEZn, 3DMAS, TTIP, TDMATi, TBTDMTa, TEMAHf, Ru(EtCp)2, TBTDEN, TEMAZr, TDMAHf ・キャリアガス:Ar ・膜厚計測用 in-situ 分光エリプソ |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=AT-031 |