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原子層堆積装置_1[FlexAL]

最終更新日:2022年6月14日
設備ID AT-031
分類 成膜装置 > 原子層堆積(ALD)装置
設備名称 原子層堆積装置_1[FlexAL] (Atomic Layer Deposition_1〔FlexAL〕)
設置機関 産業技術総合研究所(AIST)
設置場所 AISTつくば中央 2-12棟
メーカー名 オックスフォードインスツルメント (Oxford Instruments Plasma)
型番 FlexAL
キーワード ALD成膜
原子層堆積
Al2O3, SiO2, HfO2, ZnO, TiO2, SiN薄膜
in-situ 分光エリプソ

仕様・特徴 ・型式:FlexAL
・試料サイズ:8インチφ
・基板温度:100-550℃
・プラズマALD:600W(誘導結合型)
・基板バイアス:100W
・反応ガス:H2O, O2, N2, H2, NH3
・材料ポート:8ポート
・常備材料ガス:TMA, DEZn, 3DMAS, TTIP, TDMATi, TBTDMTa, TEMAHf, Ru(EtCp)2, TBTDEN, TEMAZr, TDMAHf
・キャリアガス:Ar
・膜厚計測用 in-situ 分光エリプソ
設備状況 稼働中
本設備の利用事例 https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=AT-031
    原子層堆積装置_1[FlexAL]
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