屈折率測定装置（プリズムカプラ）
最終更新日：2023年6月28日
| 設備ID | CT-031 |
|---|---|
| 分類 | 膜厚・粒度測定 > その他 |
| 設備名称 | 屈折率測定装置（プリズムカプラ） (Refractometer (Prism Coupler)) |
| 設置機関 | 公立千歳科学技術大学 |
| 設置場所 | D202 |
| メーカー名 | メトリコン (Metricon) |
| 型番 | Model 2010/M |
| キーワード | 薄膜の屈折率、膜厚の測定 |
| 仕様・特徴 | ・光源波長：633nm（He-Neレーザー） ・屈折率精度：±0.0005 ・透明バルクおよび透明フィルムの高精度屈折率 ・膜厚と屈折率の同時計測（10～15ミクロン膜厚まで） |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=CT-031 |
