触針式表面形状測定器(Dektak)
最終更新日:2024年4月5日
設備ID | CT-017 |
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分類 |
膜厚・粒度測定 > 段差計 膜厚・粒度測定 > 膜厚測定 |
設備名称 | 触針式表面形状測定器(Dektak) (Stylus profilometer (Dektak)) |
設置機関 | 公立千歳科学技術大学 |
設置場所 | E203 |
メーカー名 | ブルカー (Bruker) |
型番 | Dektak XT |
キーワード | 膜厚段差、表面形状の測定、段差計 |
仕様・特徴 | ・200 mmφ対応 ・測定再現性 1σ=4 Å以下 |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=CT-017 |