X線小角散乱装置(SAXS)
設備ID | CT-016 |
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分類 | 回折・散乱 > X線回折 |
装置名称 | X線小角散乱装置(SAXS) (Small and wide angle X-ray scattering instrument (SAXS)) |
設置機関 | 公立千歳科学技術大学 |
設置場所 | E210 |
メーカー名 | リガク (Rigaku) |
型番 | Nano-Viewer |
キーワード | ナノスケールでの試料の構造評価 タンパク質など生体材料の評価 |
仕様・特徴 | ・測定可能範囲:0.2~100 nm |