X線小角散乱装置（SAXS)
最終更新日：2023年5月10日
| 設備ID | CT-016 |
|---|---|
| 分類 | 回折・散乱 > X線回折 |
| 設備名称 | X線小角散乱装置（SAXS) (Small and wide angle X-ray scattering instrument (SAXS)) |
| 設置機関 | 公立千歳科学技術大学 |
| 設置場所 | E210 |
| メーカー名 | リガク (Rigaku) |
| 型番 | Nano-Viewer |
| キーワード | ナノスケールでの試料の構造評価 タンパク質など生体材料の評価 |
| 仕様・特徴 | ・測定可能範囲：0.2~100 nm |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=CT-016 |
