電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
最終更新日：2024年4月5日
| 設備ID | CT-011 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM） (Field emission scanning electron microscope (FE-SEM)) |
| 設置機関 | 公立千歳科学技術大学 |
| 設置場所 | F109 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JSM-7800F |
| キーワード | 試料表面の微細構造観察 走査型電子顕微鏡 |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧：0.01~30 kV ・倍率： 25~1,000,000倍 ・装備オプション：EDS、STEM、BED、USD、低真空システム |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=CT-011 |
