電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
設備ID | CT-011 |
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分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
装置名称 | 電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM) (Field emission scanning electron microscope (FE-SEM)) |
設置機関 | 公立千歳科学技術大学 |
設置場所 | F109 |
メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
型番 | JSM-7800F |
キーワード | 試料表面の微細構造観察 走査型電子顕微鏡 |
仕様・特徴 | ・加速電圧:0.01~30 kV ・倍率: 25~1,000,000倍 ・装備オプション:EDS、STEM、BED、USD、低真空システム |