走査型電子顕微鏡（SEM）
| 設備ID | CT-010 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 走査型電子顕微鏡（SEM） (Scanning electron microscope (SEM)) |
| 設置機関 | 公立千歳科学技術大学 |
| 設置場所 | E104 |
| メーカー名 | 日立ハイテク (Hitachi High-Tech) |
| 型番 | TM4000Plus |
| キーワード | 試料表面の微細構造観察 走査型電子顕微鏡 |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧：5、10、15 ｋV ・倍率：10~100,000倍 ・装備オプション：EDS、UVD、カメラナビゲーションシステム |
