両面マスクアライナ
設備ID | HK-702 |
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分類 | リソグラフィ > 光露光(マスクアライナ) |
装置名称 | 両面マスクアライナ (Double-side alignment Mask aligner) |
設置機関 | 北海道大学 |
設置場所 | 工学部L棟 |
メーカー名 | ズースマイクロテック (SUSS) |
型番 | MA-6 |
キーワード | 厚膜レジスト 高性能手動両面マスクアライナ |
仕様・特徴 | 両面、露光精度0.6ミクロン 試料サイズ:最大6インチ 基板サイズ:不定形小片~150mm角 |