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時間分解収差補正光電子顕微鏡システム

設備ID	HK-405
分類	透過電子顕微鏡 > 光電子顕微鏡
装置名称	時間分解収差補正光電子顕微鏡システム (Time-resolved photoelectron emission microscope)
設置機関	北海道大学
設置場所	創成科学研究棟03-120
メーカー名	エルミテック (Elmitec)
型番	AC-PEEMIII
キーワード	プラズモン計測
仕様・特徴	空間分解能：4nm以下時間分解能：10fs以下 LEEM機能