時間分解収差補正光電子顕微鏡システム
最終更新日：2022年4月9日
| 設備ID | HK-405 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 光電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 時間分解収差補正光電子顕微鏡システム (Time-resolved photoelectron emission microscope) |
| 設置機関 | 北海道大学 |
| 設置場所 | 創成科学研究棟03-120 |
| メーカー名 | エルミテック (Elmitec) |
| 型番 | AC-PEEMIII |
| キーワード | プラズモン計測 |
| 仕様・特徴 | 空間分解能：4nm以下 時間分解能：10fs以下 LEEM機能 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=HK-405 |
