レーザー描画装置 [DWL66+]
最終更新日:2024年2月29日
設備ID | NM-603 |
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分類 | リソグラフィ > 光露光(マスクレス、直接描画) |
設備名称 | レーザー描画装置 [DWL66+] (Laser Lithography [DWL66+]) |
設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
設置場所 | NIMS千現地区 材料信頼性実験棟 |
メーカー名 | ハイデルベルグ・インストルメンツ (HEIDELBERG INSTRUMENT) |
型番 | DWL66+ |
キーワード | マスクレス、描画、リソグラフィ、レーザー、グレースケール、レジスト、光露光(マスクレス、直接描画)/ Optical exposure (maskless and direct drawing) |
仕様・特徴 | ・光源:375nm 半導体レーザー (70mW) ・描画モード:ラスタースキャン描画、ベクターモード描画 ・解像モード:0.3μm, 0.6μm, 0.8μm, 1.0μm ・最大試料サイズ:8インチ角 ・その他:グレースケール描画、重ね合わせ描画 |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-603 |