超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
| 設備ID | HK-404 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 (High resolution Field-emission scanning electron microscope) |
| 設置機関 | 北海道大学 |
| 設置場所 | 創成科学研究棟01-305 |
| メーカー名 | 日立ハイテク (Hitachi High-Tech) |
| 型番 | Regulus8230 |
| キーワード | 低加速 高分解能表面観察 |
| 仕様・特徴 | 加速電圧：0.5～30kV 分析機能：EDS STEM機能 試料サイズ：6インチまで 遠隔画面共有 |
