走査型透過電子顕微鏡
| 設備ID | HK-402 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 北海道大学 |
| 設置場所 | 創成科学研究棟01-303 |
| メーカー名 | 日立ハイテク (Hitachi High-Tech) |
| 型番 | HD-2000 |
| キーワード | 微細構造観察 エネルギー分散型X線分光(EDS) 二次電子像 |
| 仕様・特徴 | 加速電圧：200kV 冷陰極電界放出電子銃 分析機能：EDS、EELS |
