収差補正走査型透過電子顕微鏡
最終更新日：2022年4月9日
| 設備ID | HK-401 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
| 設備名称 | 収差補正走査型透過電子顕微鏡 (Cs-corrected scanning transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 北海道大学 |
| 設置場所 | 創成科学研究棟01-302 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F |
| キーワード | 高分解能観察 結晶構造解析 組成分布観察 電子エネルギー損失分光（EELS) エネルギー分散型X線分光（EDS) 大気非暴露 |
| 仕様・特徴 | 加速電圧：80kV,200kV ColdFEG EDS,EELS 大気非暴露・冷却試料ホルダー 遠隔観察 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=HK-401 |
