量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置
| 設備ID | HK-107 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置 (Microscopic measuring equipment for physical properties on quantum/electronic controlled nano-materials) |
| 設置機関 | 北海道大学 |
| 設置場所 | 工学部R棟1階R157室・R18室 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F NEOARM |
| キーワード | 高分解能観察 結晶構造解析 組成分布観察 エネルギー分散型X線分光 その場観察 |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧：80kV-200kV ・TEM分解能：0.1nm、STEM分解能：0.07nm ・冷陰極電界放出型電子銃 ・照射系球面収差補正器 ・結像系球面収差補正器 ・HAADF-ABF同時取得機能 ・EDS検出器 ・加熱・バイアス印加TEM二軸傾斜ホルダー |
