電界放射型走査電子顕微鏡
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最終更新日：2024年8月29日
| 設備ID | HK-106 |
|---|---|
| 分類 | > |
| 設備名称 | 電界放射型走査電子顕微鏡 (Analytical FEG-SEM) |
| 設置機関 | 北海道大学 |
| 設置場所 | 工学部 EM棟EM202室 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JSM-7001FA |
| キーワード | 微細組織観察 エネルギー分散型X線分光 カソードルミネッセンス EBSD Cross Court |
| 仕様・特徴 | ・分解能：1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV) ・加速電圧：0.5～30kV ・倍率：10 ～ 1,000,000 ・EDS ・EBSD ・Cross Court ・CL |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=HK-106 |
