電界放射型分析電子顕微鏡
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最終更新日：2025年3月31日
| 設備ID | HK-102 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
| 設備名称 | 電界放射型分析電子顕微鏡 (Analytical FEG-TEM) |
| 設置機関 | 北海道大学 |
| 設置場所 | 工学部 R棟R156室 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2010F |
| キーワード | 微細組織観察 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散型X線分光 |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧：200kV ・TEM分解能：0.23nmn ・熱電界放出電子銃 ・分析機能：EDS、EELS ・遠隔観察 |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=HK-102 |
