ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡
| 設備ID | HK-101 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 透過電子顕微鏡 > 三次元電子顕微鏡 |
| 装置名称 | ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 (Double Cs-corrected scanning transmission electron microscope ) |
| 設置機関 | 北海道大学 |
| 設置場所 | 工学部 新世代先端材料研究実験棟 |
| メーカー名 | 日本FEI (FEI) |
| 型番 | Titan3 G2 60-300 |
| キーワード | 高分解能観察 結晶構造解析 組成分布観察 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散型X線分光 |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧：60kV-300kV ・TEM分解能：0.07nm、STEM分解能：0.07nm ・X-FEG電子銃 ・モノクロメーター搭載 ・照射系球面収差補正器 ・結像系球面収差補正器 ・Super-X EDS検出器 ・Gatan GIF QuantumER分光器 ・分析試料ホルダー、トモグラフィー試料ホルダー ・遠隔観察 ・遠隔オペレーション |
